AN-200金相顯微鏡
AN-200采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光幹擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。廣泛适用于各類半導體晶片檢測、材料科學研究,地質礦物分析及精密工程等領域。
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AN-200金相顯微鏡AN-200采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光幹擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。廣泛适用于各類半導體晶片檢測、材料科學研究,地質礦物分析及精密工程等領域
AN-200金相顯微鏡
AN-200采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光幹擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。廣泛适用于各類半導體晶片檢測、材料科學研究,地質礦物分析及精密工程等領域。
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