AN-200M倒置金相顯微鏡
倒置AN-200M金相顯微鏡，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體矽晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。采用底手位粗微調同軸調焦機構，左右側均可調節，微調精度高，手動調節簡單方便，用戶能夠輕松得到清晰舒适的圖像。粗調行程爲38mm，微調精度0.002。采用180×155mm的大尺寸平台，右手位設置，符合常規人群操作習慣。用戶操作過程中，便于調焦機構與平台移動的操作切換，爲用戶提供更加高效的工作環境。
産品參數
手機：13760183725
郵箱：787499046@qq.com
QQ：787499046
地址：深圳市福田區深南中路彙商中心2713、2715
AN-200M倒置金相顯微鏡倒置AN-200M金相顯微鏡，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體矽晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。采用底手位粗微調同軸調焦機構，左右側均可調節，微調精度高，手動調節簡單方便，用戶能夠輕松得到清晰舒适的圖像。粗調行程爲38mm，微調精度0.002。采用180×15
AN-200M倒置金相顯微鏡
倒置AN-200M金相顯微鏡，操作簡便，附件齊全，廣泛應用于教學科研金相分析、半導體矽晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。采用底手位粗微調同軸調焦機構，左右側均可調節，微調精度高，手動調節簡單方便，用戶能夠輕松得到清晰舒适的圖像。粗調行程爲38mm，微調精度0.002。采用180×155mm的大尺寸平台，右手位設置，符合常規人群操作習慣。用戶操作過程中，便于調焦機構與平台移動的操作切換，爲用戶提供更加高效的工作環境。
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田工